[原创]世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

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[watermark]世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司
可测参数：
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1&Aring; to 250 um)
2）反射率R和透射率T
3）折射率n和吸收系数k
4）能带间隙
5）表面粗糙度和损伤度
6）成份和结晶程度
适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。
联系方式：
中电网EMD是从属于信息产业部CCID的从事国际半导体制造设备与材料引进及介绍的专业代理机构；
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